SMA 公头转 SMA 公头高性能射频测试与测量电缆组件 – 采用 CFT360H18 同轴电缆

SMA 公头转 SMA 公头高性能射频测试与测量电缆组件 – 采用 CFT360H18 同轴电缆制造

SMA 公头转 SMA 公头高性能射频测试与测量电缆组件（型号 TCCN-SMSM-1M）专为高达 18 GHz 的可靠、可重复微波性能而设计。这款 1 米长的组件采用 Mechanc 的 CFT360H18 同轴电缆制造，它是 相位稳定 50 GHz 加固型精密测试同轴电缆 CFT360的高稳定加固型。两端均配备精密 SMA 公头连接器 （参考型号 SMA-JCFT360H18-1）端接，可为基于 SMA 的射频系统提供安全、低反射的接口。

高达 18 GHz 的可靠射频性能

TCCN-SMSM-1M 支持从 DC 到 18 GHz 的宽工作频带，可提供现代射频实验室所需的阻抗稳定性与低反射。凭借 1.15 的典型驻波比与每米 2.17 dB 的典型插入损耗，该组件可提供洁净的传输路径，适用于 VNA 校准、S 参数评估、放大器测试以及通用宽带射频分析。

面向精密测量的相位稳定 CFT360H18 电缆

CFT360H18 同轴电缆经设计可在弯曲、移动与反复操作过程中保持电气精度。其 ±5° 的机械相位稳定性与 ±0.05 dB 的幅度稳定性可在高强度测试循环中支持高度可重复的测量。凭借紧凑的 3.6 mm 外径、36 mm 最小弯曲半径以及耐用的 10,000 次弯曲寿命，该组件适用于高密度测试环境。74 % 的传播速度可在 –55 °C 至 +165 °C 的宽温度范围内确保出色的时域与相位敏感测量精度。

面向微波精度的精密 SMA 接口

TCCN-SMSM-1M 的两端均采用精密 SMA-JCFT360H18-1 公头连接器，专为低反射性能与稳定的机械配合而设计。这些连接器使该组件非常适合基于 SMA 的 VNA、频率合成器、信号发生器、频谱分析仪以及自动化射频测试系统。更多 SMA 接口解决方案请浏览 SMA 射频电缆组件 系列。

适用于先进射频与微波测试系统

作为 Mechanc TC 系列的一部分，每条 TCCN-SMSM-1M 组件均针对驻波比、插入损耗、相位稳定性与机械耐久性完成全面认定。它按符合 REACH 与 RoHS 指令的要求设计，可在实验室级与量产级射频及微波测试环境中确保长期可靠性。